湖南场发射扫描电子显微镜及能谱分析仪SEM EDS测试

湖南场发射扫描电子显微镜及能谱分析仪SEM EDS测试由深圳华瑞测试分析中心，

1. SEM-EDS的详细介绍

SEM-EDS的详细介绍，包括SEM和EDS的工作原理和应用领域。SEM-EDS是一种组合检测设备，结合了扫描式电子显微镜（Scanning Electron Microscopy）和能量散射光谱仪（Energy Dispersive Spectrometer）。SEM能够利用高能电子束扫描样品表面，通过电子与样品原子相互作用所产生的各种信号，如二次电子、背散射电子等，揭示样品的表面形貌和结构信息。EDS则用于分析样品中的元素种类和含量，通过检测电子束与样品互动时所产生的X射线，根据能量分布的差异来区分各种元素，并计算各元素的相对含量。

2. SEM/EDS可以观察表面微观形貌

扫描电子显微镜与能谱仪（SEM/EDS）的详细介绍，包括其在材料检测及研究领域的应用。SEM/EDS可以观察表面微观形貌，并利用能谱仪作表面微区成分分析，元素探测范围从Be4到U92。该技术广泛应用于对金属材料、无机材料、有机材料、纳米材料的研究及表面状态分析，以及对各种物质进行定性定量分析、元素组成及分布分析。SEM/EDS还曾在多个物证鉴定案例中发挥作用。

3. SEM的基本工作原理和样品要求

扫描电子显微镜-能谱仪（SEM-EDS）的详细介绍，包括SEM的基本工作原理和样品要求。SEM是利用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等。SEM的放大倍数可达几十万倍，分辨率可达纳米级别，是形貌和成分分析领域的重要工具。

扫描电镜测试sem可提供表面结构测试，进行样品微观分析，扫描式显微镜可放大到30万倍以上，可测试项目广泛。

x射线能谱：入射电子和样品进行非弹性碰撞可产生连续x光和特征x光，前者系入射电子减速所放出的连续光谱，形成背景决定Zui少分析之量，后者系特定能阶间之能量差，可藉以分析成分元素。

元素分析： 可以测试的金属元素有： 锂（li）、铍（be）、 钠（na）、镁（mg）、铝（al）、 钾（k）、钙（ca）、钛（ti）、钒（v）、铬（cr）、锰（mn）、铁（fe）,钴（co）、镍（ni）、铜（cu）、锌（zn）、镓（ga）、...

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