广州SEM电镜分析 无机材料EDS能谱检验检测

广州SEM电镜分析和无机材料EDS能谱检验检测咨询深圳华瑞测试分析中心：

1. SEM电镜分析：SEM（扫描电子显微镜）是用细聚焦的高能电子束轰击试样表面，通过电子与试样相互作用产生的二次电子、背散射电子信息对试样表面或断口进行微区形貌及结构的观察。SEM可以提供高分辨率的形貌图像，能够清晰地展现材料的表面结构、微裂纹、腐蚀坑等微观形貌特征。SEM的二次电子成像分辨率约3nm，背散射电子成像分辨率约300nm。

   
   

   
   

   

2. EDS能谱检验检测：EDS（能量色散X射线谱）能谱仪，又名显微电子探针，是一种分析物质元素的仪器，常与扫描电镜或者透射电镜联用，在真空室下用电子束轰击样品表面，激发物质发射出特征x射线，根据特征x射线的波长，定性与半定量分析元素周期表中Be以上的物质元素。EDS成分分析的元素范围Be～U，分析深度约1μm，检测下限约1%，空间分辨率约1μm。

3. SEM/EDS应用范围：主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，包括电子衍射、成像、微区成分分析等。适用于除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料。表征范围包括微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。

4. SEM/EDS分析手段：SEM/EDS分析手段主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括电子衍射、成像、微区成分分析等。SEM/EDS应用范围包括材料范围和表征范围。

   

5. SEM/EDS送样须知：单颗粉末尺寸好小于1μm；无磁性；以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪。需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察；如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等机械方法制成粉末来观察；无磁性。

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