SEM（扫描电子显微镜）是一种利用电子束扫描样品表面，通过检测电子束与样品表面相互作用产生的信号来获取样品表面形貌和微观结构信息的高分辨率成像技术。其主要特点包括高分辨率、高灵敏度、高深度和高表面信息，能够观察到微米甚至纳米级别的粉体颗粒。
应用领域粉体颗粒形貌分析：SEM可以观察粉体颗粒的形状、尺寸、表面形态、晶体形态等信息，获得粒度分布、颗粒形貌、表面粗糙度、晶体结构等重要参数。
粉体元素组成和结构分析：结合能量散射谱(EDS)等技术，深入了解粉体样品的性质、组成和性能。
高分辨率：能够观察到微米甚至纳米级别的粉体颗粒。
高灵敏度：可以检测到微小的表面变化。
高深度：观察到样品表面的深度信息，分析粉体颗粒的内部结构。
高表面信息：观察到样品表面的微观结构信息，分析粉体颗粒的表面形态和表面粗糙度。
SEM检测粉末样品的优势分辨率高：SEM的分辨率通常在3-0.5nm之间，高可达0.4nm，能够清晰呈现纳米级别的细节。
景深大：SEM图像具有较大的景深，能同时显示样品的表面和次表面细节。
成分分析：结合能谱仪(EDS)，可同时进行形貌观察及成分分析。
深圳华瑞测试分析中心提供的SEM微观形态分析服务，适用于多种材料，包括金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物等。
服务内容显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析：深入了解材料的微观结构和性质。
化学成分的定性和定量检测：确定金属材料牌号，分析机械零部件、电子元器件失效原因。
复合材料界面特性的研究：研究不同材料间的界面相互作用，提高材料的性能和应用范围。
样品要求样品需无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
对于不导电或导电性差的样品，建议做喷金处理以增强导电性。
样品制备：样品的制备直接影响拍摄照片的清晰度，需确保样品无团聚、有一定密度且图像清晰。
分辨率和放大倍数的匹配：根据粉末颗粒的尺寸选择合适的放大倍数，以确保观测的准确性。
深圳测试分析中心通过上述分析，可以看出SEM技术在粉末样品微观形态分析中具有显著的优势和应用价值。
